అనలిటికల్ కెమిస్ట్రీ: యాన్ ఇండియన్ జర్నల్
ISSN (PRINT): 0974-7419

నైరూప్య

X-Ray Photoelectron Spectroscopy Studies of Metal Chalcogenide Thin Films: A Review

Ho Soonmin


X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) on sample analysis has the capability to give useful information about the surface layer in thin films. In this work, chemical composition and elemental oxidation states will be studied for binary, ternary and quaternary thin films.


నిరాకరణ: ఈ సారాంశం ఆర్టిఫిషియల్ ఇంటెలిజెన్స్ టూల్స్ ఉపయోగించి అనువదించబడింది మరియు ఇంకా సమీక్షించబడలేదు లేదా నిర్ధారించబడలేదు

ఇండెక్స్ చేయబడింది

  • CASS
  • గూగుల్ స్కాలర్
  • J గేట్ తెరవండి
  • చైనా నేషనల్ నాలెడ్జ్ ఇన్‌ఫ్రాస్ట్రక్చర్ (CNKI)
  • CiteFactor
  • కాస్మోస్ IF
  • ఎలక్ట్రానిక్ జర్నల్స్ లైబ్రరీ
  • రీసెర్చ్ జర్నల్ ఇండెక్సింగ్ డైరెక్టరీ (DRJI)
  • రహస్య శోధన ఇంజిన్ ల్యాబ్‌లు
  • ICMJE

మరిన్ని చూడండి

జర్నల్ ISSN

జర్నల్ హెచ్-ఇండెక్స్

Flyer

యాక్సెస్ జర్నల్స్ తెరవండి