నైరూప్య

Observation of flicker 1/f noise in YBa2Cu3O7 and GaAlAs diode

S.B.Ota, Smita Ota


Polycrystalline YBa2Cu3O7-x near TC (70-95 K) and GaAlAs semiconductor diode in the temperature range 50-300 K has been studied. The measured dc voltages in these systems show fluctuations and the standard deviations of the voltage values show the statistics of flicker 1/f noise. In YBa2Cu3O7-x the measured dc voltages showed increased noise near TC which is possibly related to the 1/f noise due to the motion of vortex lattice. The 1/f noise in GaAlAS diode is found to be temperature independent but current dependent. It is found to increase with decrease in forward current below 0.01 mA.


నిరాకరణ: ఈ సారాంశం ఆర్టిఫిషియల్ ఇంటెలిజెన్స్ టూల్స్ ఉపయోగించి అనువదించబడింది మరియు ఇంకా సమీక్షించబడలేదు లేదా నిర్ధారించబడలేదు

ఇండెక్స్ చేయబడింది

  • CASS
  • గూగుల్ స్కాలర్
  • J గేట్ తెరవండి
  • చైనా నేషనల్ నాలెడ్జ్ ఇన్‌ఫ్రాస్ట్రక్చర్ (CNKI)
  • CiteFactor
  • కాస్మోస్ IF
  • ఎలక్ట్రానిక్ జర్నల్స్ లైబ్రరీ
  • రీసెర్చ్ జర్నల్ ఇండెక్సింగ్ డైరెక్టరీ (DRJI)
  • రహస్య శోధన ఇంజిన్ ల్యాబ్‌లు
  • ICMJE

మరిన్ని చూడండి

జర్నల్ హెచ్-ఇండెక్స్

Flyer