నైరూప్య

Electric Properties Of BiFeO3 Modified PZT Solid Solution Films Prepared By Sol-Gel Process

Hongri Liu, Zuli Liu, Qing Liu, Xingao Li, Kailun Yao


(PbZr0.5Ti0.5O3)x-(BiFeO3)1-x films have been prepared on LaNiO3/SiO2/ Si substrates by sol-gel process at an annealing temperature of 600°C. Xray diffraction patterns indicate that the samples show (110) preferred orientation or random orientation according to the x and no impure phase was observed for all films. The study of ferroelectricity shows that the saturated polarizations are enhanced by the incorporation of BiFeO3. Remnant polarization of 33.7 μC/cm2, 36.8 μC/cm2, 34.4 μC/cm2 and 37.6 μC/cm2 are observed for the films with x=0 to 0.20. In addition, dielectric properties were enhanced through the solid solution with BiFeO3. Leakage conduction was also increased by the incorporation of BiFeO3. ï›™ 2006 Trade Science Inc. - INDIA


ఇండెక్స్ చేయబడింది

  • CASS
  • గూగుల్ స్కాలర్
  • J గేట్ తెరవండి
  • చైనా నేషనల్ నాలెడ్జ్ ఇన్‌ఫ్రాస్ట్రక్చర్ (CNKI)
  • CiteFactor
  • కాస్మోస్ IF
  • ఎలక్ట్రానిక్ జర్నల్స్ లైబ్రరీ
  • రీసెర్చ్ జర్నల్ ఇండెక్సింగ్ డైరెక్టరీ (DRJI)
  • రహస్య శోధన ఇంజిన్ ల్యాబ్‌లు
  • ICMJE

మరిన్ని చూడండి

జర్నల్ హెచ్-ఇండెక్స్

Flyer